Artieda JP, Trojman L, Crupi F, Ragnarsson L-Ã. Caracterización eléctrica de nano-MOSFETs en tecnología SOI. ACI Av. Cienc. Ing. (Quito) [Internet]. 28 de diciembre de 2012 [citado 10 de septiembre de 2026];4(2). Disponible en: https://revistas.usfq.edu.ec/index.php/avances/article/view/107