J. P. Artieda, L. Trojman, F. Crupi, y L.-Ã. Ragnarsson, «Caracterización eléctrica de nano-MOSFETs en tecnología SOI», ACI Av. Cienc. Ing. (Quito), vol. 4, n.º 2, dic. 2012, doi: 10.18272/aci.v4i2.107.