Artieda, John P., Lionel Trojman, Felice Crupi, y Lars-Ã…ke Ragnarsson. 2012. «Caracterización eléctrica de nano-MOSFETs en tecnología SOI». ACI Avances en Ciencias e Ingenierías 4 (2). https://doi.org/10.18272/aci.v4i2.107.