Trojman, L.; Pantisano, L.; Bustamante, J.; Navarro, S. EOT sub-nanométrico y degradación de la movilidad: ¿hacia un límite físico con las técnicas de fabricación modernas? ACI Av. Cienc. Ing. (Quito) 2010, 2 (2). https://doi.org/10.18272/aci.v2i2.35.