Trojman L, Pantisano L, Bustamante J, Navarro S. EOT sub-nanométrico y degradación de la movilidad: ¿hacia un límite físico con las técnicas de fabricación modernas?. ACI Av. Cienc. Ing. (Quito) [Internet]. 1 de junio de 2010 [citado 27 de julio de 2024];2(2). Disponible en: https://revistas.usfq.edu.ec/index.php/avances/article/view/35