Artieda, John P., Lionel Trojman, Felice Crupi, y Lars-Ã…ke Ragnarsson. «Caracterización eléctrica De Nano-MOSFETs En tecnología SOI». ACI Avances en Ciencias e Ingenierías 4, no. 2 (diciembre 28, 2012). Accedido noviembre 22, 2024. https://revistas.usfq.edu.ec/index.php/avances/article/view/107.