[1]
L. M. Prócel, J. Moreno, F. Crupi, y L. Trojman, «Extracción de la movilidad de dispositivos MOSFET de silicio en aislante, ultra delgados y agotados completamente», ACI Av. Cienc. Ing. (Quito), vol. 5, n.º 1, abr. 2013.