OVIEDO, Juan F.; TROJMAN, Lionel; KAUERAUF, Thomas; BONIFAZ, Edison A. Análisis termo-eléctrico de elementos finitos (EF) en vías de cobre nanométricas bajo tensión de alta fluencia. ACI Avances en Ciencias e Ingenierías, [S. l.], v. 5, n. 2, 2013. DOI: 10.18272/aci.v5i2.139. Disponível em: https://revistas.usfq.edu.ec/index.php/avances/article/view/139. Acesso em: 20 abr. 2024.