ARTIEDA, John P.; TROJMAN, Lionel; CRUPI, Felice; RAGNARSSON, Lars-Ã…ke. Caracterización eléctrica de nano-MOSFETs en tecnología SOI. ACI Avances en Ciencias e Ingenierías, [S. l.], v. 4, n. 2, 2012. DOI: 10.18272/aci.v4i2.107. Disponível em: https://revistas.usfq.edu.ec/index.php/avances/article/view/107. Acesso em: 22 nov. 2024.