[1]
Bustamante, J. y Trojman, L. 2012. Silicio Ultradelgado Empobrecido en Aislante MOSFET: una simulación basada en COMSOL Multiphysics®. ACI Avances en Ciencias e Ingenierías. 4, 1 (jun. 2012). DOI:https://doi.org/10.18272/aci.v4i1.88.